半导体测试 - 解决方案

某材料领域用户需要进行薄膜磁电阻的电阻率测试，在这个测试中首先需构建变化的磁场，再向待测磁电阻输入高精密恒流源，利用四探针法测试薄膜磁电阻 的磁阻及磁电特性。恒流源需以1mA恒流输出，分辨率1nA。还需要有脉冲扫描功能，高电平从100mA扫描到-100mA，低电平为0.1mA。这要求恒流源电源需要有高分辨率高精度以保证测试的精准及稳定、正电流到负电流的连续稳定扫描功能。

半导体分立器件一般泛指半导体二极管、晶体管、晶闸管， 是构成电力电子变化装置的核心器件之一，主要用于电力电子设备的整 流、稳压、开关、混频等， 在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领 域均有广泛、大量的应用。

光耦继电器是用半导体器件代替传统电接点作为切换装置的具有继电器特性的无触点开关器件，广泛应用于计算机外围接口装置、数控机械、遥控系统、工业自动化器械、精密仪表等产品中。在进行光耦继电器测试实验时， 过流是造成其内部输出可控硅永久性损坏的主要原因。许多负载在接通瞬间会产生很大的浪涌电流，因此在实验时保证一定的电流余量是极其重要的。

激光器测试对供电源有着极高的要求，为恒流供电方式。传统的电源，默认为CV环路优先，启动瞬间抑制电流过冲速度较慢。ITECH多系列可编程直流源具备CC/CV优先权功能，用户可根据测试需求调节环路速度，选择CV模式电压高速的测试场景，或是CC优先模式电流无过冲的场景。

电子测量仪器作为基础科研工具，是国家科研自主可控的重要环节。在半导体器件超导材料和光电器件等测试领域中，为了更全面地检测器件特性，提升整个测试系统的效率，往往对供给电源和测量同步性方面有更严苛的要求。东方中科为您推荐更加便捷的国产测试解决方案，无需上位机软件，可直接在仪器界面设置并生成半导体元件如二极管、三极管、MOS管、IGBT等IV特性曲线，并可以直接调用常用器件库，帮您快速完成测试。

精密温控型多功能LV 光谱功率积分测试系统测试方案系统背景随着光电子技术和信息技术的发展，半导体激光器(LD)在光纤通信，信息存储、光传输等领域得到了广泛的应用，作为系统的光源，LD 特性的优劣直接影响着系统的性能。

日前，基于SiC和GaN的第三代半导体技术蓬勃发展，其对应的分立器件性能测试需求也随之而来。其较高的dv/dt与di/dt给性能测试带了不少困难。泰克的TIVP系列光隔离探头，以其优越的160dB共模抑制比，超低的前端电容，丰富的连接方式，搭配便捷的AFG31000双脉冲输出功能，加速三代半导体测试流程。

垂直腔面发射激光器(VCSEL)是成像、传感技术和数据通信的关键部件。VCSEL的优势之一是能够在制造过程的早期阶段进行晶片级别的测试，相比之下，对其他边缘发射半导体激光器的测试通常在制造周期结束时进行，此时产品已达到生产的最后阶段。这种测试方法允许及早检测组件故障，通过在封装之前识别有缺陷的设备，大大节省了时间和成本。